X射线仪器是一类利用X射线的独特物理性质（高能量、短波长、穿透性强）进行分析、检测或治疗的仪器总称。其核心原理基于X射线与物质的相互作用，主要包括透射、衍射、荧光发射和吸收等过程，从而获取样品的内部结构、元素组成、晶体结构或缺陷信息。
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| 产品名称 | X射线衍射仪(XRD) |
| 品牌 | 布鲁克(Bruker)、利希特(PANalytical, 马尔文帕纳科)、理学(Rigaku)、岛津(Shimadzu)、安捷伦(Agilent)、东曹(Tosoh)、赛默飞(Thermo Fisher)、PERSEE等 |
| 型号 | Bruker D8 Advance、PANalytical Empyrean/X’Pert PRO、Rigaku SmartLab/Ultima IV、Shimadzu XRD-7000/6100、Agilent SuperNova、Tosoh TXU系列、Thermo ARL X’TRA等（常见型号） |
| 产地 | 德国、日本、美国、中国、荷兰等 |
| 产品详情 | X射线衍射仪（XRD）是一种基于X射线与物质晶体结构相互作用机理的分析仪器。它能提供物质的物相类型、晶体结构、晶粒大小、残余应力等精确信息，广泛应用于材料科学、地矿、化工、生物医药、环境、法医等领域，是无损分析的利器。 |
| 产品特点 | 分析速度快，样品制备简单，无损检测，多物相与复杂混合物分析能力强；高分辨率、灵敏度高，可实现全自动、高通量测量，数据输出标准化，界面操作便捷；部分型号支持2D/3D成像、原位测试和高温/原位样品池 |
| 产品应用 | 无机/有机物物相鉴定和定量分析、结晶度测量、晶粒尺寸与结构参数计算、应力与织构分析、薄膜和多层膜结构检测、地质矿物与考古样品分类、催化/电池材料监测、教学与科研等 |
| 技术参数 | 2θ扫描范围常见0.5~150°，分辨率0.0001°；Cu、Mo、W等多种靶材X射线源，灵敏度高（可检测至亚百分含量物相），检测样品从微克级至较大体积，自动进样及多样品盘支持，USB/网络数据导出 |
| 安全与环境要求 | 防X射线泄漏屏蔽严格，设备接地良好，操作间需配备X射线报警与防护标志；符合国家辐射安全法规与操作规范，通风条件好，温度15~30℃、湿度≤80%，定期仪器安全检测 |
| 用户评价 | 检测速度快、结果准确重复性佳，软件界面友好、数据管理便捷，支持多种测试需求；用户反馈维护省心、售后完善，适合教学/科研/质量检测多场景应用 |
| 产品名称 | X荧光光谱、XRF（能量色散型X荧光光谱仪） |
| 品牌 | 理学(Rigaku)、布鲁克(Bruker)、岛津(Shimadzu)、马尔文帕纳科(PANalytical)、日立(Hitachi)、安特电子(AMETEK)、Thermo Fisher、天瑞仪器、江苏天瑞 |
| 型号 | Rigaku Supermini200/ZSX Primus、Bruker S8 Tiger/S2 Ranger、Shimadzu EDX-7000/8000、PANalytical Epsilon系列、Hitachi X-Supreme8000、AMETEK Spectro Xepos、Thermo ARL QUANT’X、天瑞EDX系列等 |
| 产地 | 日本、德国、美国、中国、荷兰等 |
| 产品详情 | X射线荧光光谱仪（XRF）采用X射线激发样品产生特征荧光，通过能谱分析实现多元素的无损、快速定性与定量测定。EDXRF（能量色散型）适用于固体、粉末、液体等多样本，广泛用于金属、合金、矿石、建材、环境、考古等多领域。数据直读，自动校准，支持元素范围广（常见Na~U）。 |
| 产品特点 | 样品制备简单，无损检测；分析速度快（秒/分钟级），适合多种材料与复杂基体；元素覆盖范围广，灵敏度高，定量重复性佳；操作友好，自动校准和多方法管理，部分型号支持便携/手持/在线监测 |
| 产品应用 | 金属及合金成分分析、矿石矿物检测、建材（如水泥、玻璃）元素分析、环境样品（如土壤、废水、ROHS）检测、考古与文博材料成分鉴定、食品与消费品安全筛查、生产现场质量控制等 |
| 技术参数 | 能量分辨率常见125~140 eV，分析元素范围Na~U；样品测量范围μg/g~%，常规检测速度30秒~数分钟，可存/联网数据，适配自动化进样，部分型号支持便携/手持测量 |
| 安全与环境要求 | 严格防护X射线泄漏，设备接地，实验室（车间）环境温度15~35℃、湿度≤80%；仪器符合国家和国际电离辐射安全标准；定期安全测试与维护，操作人员需培训，使用防护警示 |
| 用户评价 | 无损高效、操作便捷，结果直观准确，数据存取与自动校准智能；用户反馈仪器稳定性好、适合各种复杂场景、维护省心、售后及时，广泛应用于科研与产业 |
| 产品名称 | X荧光光谱、XRF（波长色散型X荧光光谱仪） |
| 品牌 | 理学(Rigaku)、布鲁克(Bruker)、马尔文帕纳科(PANalytical)、日立(Hitachi)、Thermo Fisher、岛津(Shimadzu)、江苏天瑞、北京博赛德等 |
| 型号 | Rigaku ZSX Primus IV/ZSX Primus Ultra、Bruker S8 TIGER/AXIOS、PANalytical Axios FAST/Zetium、Hitachi SEA 6000VX、Thermo ARL PERFORM’X、Shimadzu XRF-1800等 |
| 产地 | 日本、德国、荷兰、美国、中国等 |
| 产品详情 | 波长色散型X射线荧光光谱仪（WDXRF）利用X射线激发样品产生特征荧光，通过分光晶体将不同波长的特征X射线分离，实现多元素的高精度定量与定性分析。适用于金属、矿石、建材、玻璃、陶瓷、环境等多行业高精度成分检测，支持固体、粉末、液体样品。 |
| 产品特点 | 元素分辨率和分析精度更高，基体效应校正能力强，适应复杂成分和低含量样品；自动化程度高，重复性佳，稳定性好；多通道/多晶体并行分析，高通量，支持无人值守；样品适应性广 |
| 产品应用 | 高端金属材料及合金精密分析、矿石及建材（如水泥、玻璃）质量控制、地质与环境样品多元素分析、考古材料高精度定量、科研院校成分检测、工业过程质量监控等 |
| 技术参数 | 同时分析元素常见范围Be~U，精度高（低至ppm/亚ppm级），重现性好；分辨率优于能量色散型，自动换样与多样品位，扫描范围宽广，数据接口丰富，支持网络与自动数据导出 |
| 安全与环境要求 | 设备具备X射线严格防护与警示，实验室温度15~30℃、湿度≤80%，仪器接地，X射线及高压使用需合规，定期维护和泄漏检测，操作员需接受放射安全培训 |
| 用户评价 | 分辨率和分析精度优异，长期运行稳定，批量检测效率高，自动化省心；用户反馈数据可信度高，维护方便，售后服务专业，广泛应用于高要求成分分析场景 |
| 产品名称 | 单波长XRF |
| 品牌 | 天瑞仪器、江苏天瑞、理学(Rigaku)、布鲁克(Bruker)、日立(Hitachi)、Thermo Fisher等 |
| 型号 | 天瑞EDX1800B、江苏天瑞EXPLORER S、Rigaku NEX QC/NEX DE、Bruker S2 PUMA、Hitachi SEA1000等 |
| 产地 | 中国、日本、德国、美国等 |
| 产品详情 | 单波长XRF是一类专门针对特定元素或单一能量段进行定量、定性测定的X射线荧光光谱分析仪，广泛用于电镀厚度、镀层成分、贵金属检测、环境样品（如Pb、Hg、Cd等）快速筛查等。典型为快速定量、场所监控、便携或在线专用仪器。 |
| 产品特点 | 检测速度极快，专用于特定元素/材料，结果直观；结构紧凑，多为便携/Desktop/现场型，操作简单；维护费用低，部分型号支持在线、自动化和多通道配置，精度较高 |
| 产品应用 | 电镀及镀层厚度测量、RoHS检测、环保重金属筛查（如铅、镉）、贵金属含量检测、电子元件材料筛查、珠宝/首饰纯度鉴定、现场快速检测与工业在线监控 |
| 技术参数 | 单一元素或特定能段敏感，检测限低至mg/kg或更高，检测时间数秒到1分钟，重复性高，测量样品类型支持固体/液体/粉末，USB/网络/打印机等多种数据输出 |
| 安全与环境要求 | 设备自带X射线防护，操作简单，但需防止误操作；室温条件（15–35℃）、湿度≤80%，操作员接受基本培训即可；废样和耗件按规范处置，仪器定期检测与校准 |
| 用户评价 | 检测专一高效、省时省力，便于携带和使用，应用灵活多样；用户反馈数据直观准确，适合生产线和质量控制，维护成本低，售后服务及时 |
| 产品名称 | 电子探针X射线微区分析仪(EPMA) |
| 品牌 | 日本电子(JEOL)、岛津(Shimadzu)、卡尔·蔡司(Carl Zeiss)、卡梅卡(CAMECA)、布鲁克(Bruker)、日立(Hitachi)、中国电子科技集团(中电科)等 |
| 型号 | JEOL JXA-8230/8530F/IT800、Shimadzu EPMA-1720、CAMECA SXFive/SX100、Bruker XTrace、Hitachi SU系列等 |
| 产地 | 日本、法国、德国、中国等 |
| 产品详情 | 电子探针X射线微区分析仪（EPMA）利用高能电子束轰击样品表面激发特征X射线，通过波长色散或能谱探测对微区元素实现定量、定性和面分布分析。广泛应用于地质、材料、金属、生物、环境等领域，具备微米级空间分辨率和痕量元素检测能力，是高端微区成分与微结构研究的核心工具。 |
| 产品特点 | 空间分辨率高（亚微米~微米级）、多元素同步分析、定性定量兼备、灵敏度高（可达百ppm）、样品损伤小；可进行元素映射、线扫描和点分析，支持自动进样和大样品室，数据输出自动化 |
| 产品应用 | 岩石/矿物微区成分分析、金属/半导体失效分析、材料界面与包裹体研究、生物样本微区成分扫描、陶瓷/玻璃等微区杂质检测、微结构成分绘图、环境与考古样品成分分布等 |
| 技术参数 | 空间分辨率<1 μm，检测限常10~100 ppm，分析元素范围Be~U，支持点/线/面扫描与元素分布成像，能谱或波谱探头可选，多探头并行检测，数据导出丰富（USB/网络） |
| 安全与环境要求 | 良好接地与防电磁干扰，实验室温度20~28℃、湿度≤70%；高压/真空室安全防护，样品需干燥稳定，操作人员需受过EPMA与X射线安全培训，设备定期维护校准 |
| 用户评价 | 微区分辨率和多元素检测能力强，定量/映射精度高，仪器稳定耐用；用户反馈功能完善，操作界面友好，维护便捷，售后及时，适合高水平科研与成分分析 |
| 产品名称 | X射线散射仪 |
| 品牌 | 布鲁克(Bruker)、理学(Rigaku)、马尔文帕纳科(PANalytical)、Anton Paar、SAXSLAB、Xenocs、日立(Hitachi)、岛津(Shimadzu)、南京大学仪器公司等 |
| 型号 | Bruker NANOSTAR、Rigaku NANOPIX/NANO-Viewer、PANalytical Empyrean SAXS/WAXS、Anton Paar SAXSess、Xenocs Xeuss 2.0、Shimadzu Kratky系列等 |
| 产地 | 德国、日本、法国、荷兰、奥地利、中国等 |
| 产品详情 | X射线散射仪以X射线为探针，通过分析射线与物质相互作用后散射信号，可以获取材料的内部结构、粒径分布、排列有序性及形貌等信息。主要分为小角(SAXS)、广角(WAXS)等类型，适用于纳米至微米级结构表征。广泛用于聚合物、纳米材料、生物大分子、胶体等多领域，是材料科学与结构生物学的强大工具。 |
| 产品特点 | 结构解析能力强，适合纳米至微米级尺度分析；分辨率高，灵敏度好，非破坏性测试；数据采集与处理自动化程度高，部分型号支持全自动进样与多检测单元，适应液体、固体及薄膜样品 |
| 产品应用 | 纳米结构测定、粒径分布分析、聚合物高分子结构与结晶行为、胶体体系研究、生物大分子与蛋白质构象分析、薄膜/多层膜结构、材料有序性及缺陷表征、高分子物理与化学等 |
| 技术参数 | 支持小角/广角一体化（q范围常0.001~5 Å⁻¹），空间分辨率高（粒径2~200 nm或更宽），检测灵敏度高，可实现自动样品更换/温控，数据接口丰富，支持3D结构分析 |
| 安全与环境要求 | 设备具备X射线防护与警告装置，实验室温度18–30℃、湿度≤75%，仪器接地良好；高压部件安全管理，样品处理及废液按规范，定期维护和安全检查，操作需有专人培训 |
| 用户评价 | 结构分辨率和重复性优异，测试非破坏性，应用广泛，数据处理友好；用户反馈设备运行稳定、样品适应性强、操作及维护简便，适合科研与工程多领域 |
| 产品名称 | X射线吸收精细结构谱仪 (XAFS) |
| 品牌 | 布鲁克(Bruker)、理学(Rigaku)、安捷伦(Agilent)、马尔文帕纳科(PANalytical)、日立(Hitachi)、西能(CINEL)、斯坦福同步辐射、北京同步辐射装置等 |
| 型号 | Bruker XAFS-Lab、Rigaku XAFS-600/Confocal μXAFS、PANalytical X’Pert³ XAFS/Empyrean、CINEL XAS Station、Agilent AdvanceXAFS等 |
| 产地 | 德国、日本、荷兰、美国、中国等 |
| 产品详情 | X射线吸收精细结构谱仪（XAFS/EXAFS/XANES）用于研究样品中元素的局域结构与价态信息，通过测量X射线在吸收边附近的精细结构实现对原子邻近环境（配位数、键长、价态）的无损精确探测。广泛应用于材料科学、催化、地球化学、环境、生物、化学等前沿领域。 |
| 产品特点 | 可探测元素邻域结构与价态，无损、灵敏，适应气/液/固体多类样品；分辨率高，可原位/原态测试，支持高通量测量与同步数据采集；部分设备具有高自动化、支持低温/高温及环境控制分析 |
| 产品应用 | 催化剂活性中心分析、无序/纳米材料结构研究、环境中金属形态检测、配位化学与功能材料、地球化学与矿物学、生物金属离子结构、先进电池与能源材料研发、科学研究及教学 |
| 技术参数 | 能量分辨率常优于1 eV，可测量K、L、M边，能量范围常1.5~40 keV；适用粉末、薄膜、溶液等多种样品，支持低温/原位/大气环境下测量，数据接口多样，自动化扫描与分析处理 |
| 安全与环境要求 | 设备具备严格X射线防护及警示，实验室温度18~28℃、湿度≤75%，高压及冷却系统管理，样品(如低温、易氧化)特殊存放与处理，操作需有专业培训，定期检测维护 |
| 用户评价 | 分析精度高、价态与局域结构解析能力强，测试无损、通用性强；用户反馈设备自动化程度高，软件友好、数据处理科学，维护便捷，运行稳定，适合各类科研与前沿开发 |
| 产品名称 | X射线探测装置 |
| 品牌 | 安捷伦(Agilent)、日立(Hitachi)、布鲁克(Bruker)、理学(Rigaku)、PerkinElmer、Hamamatsu、PiXirad、Amptek、PNDetector、牛津仪器(Oxford Instruments)等 |
| 型号 | Agilent Vortex、Bruker XFlash、Rigaku Dtex/HyPix、PerkinElmer X-Card/Flat Panel、Hamamatsu SDD/CdTe、Pixirad-1/Pixirad-2、Amptek XR-100、PNDetector SDD、Oxford C-SDD等 |
| 产地 | 美国、日本、德国、意大利、中国等 |
| 产品详情 | X射线探测装置广泛用于对X射线（能谱/强度/计数率等）的高灵敏度、分辨率探测，包括制冷/非制冷型半导体探测器（如SDD、CdTe）、闪烁体、平板探测器等，能与XRD、XRF、CT、安检、同步辐射等仪器配套，实现能量分辨、空间成像、在线/离线等多种应用。 |
| 产品特点 | 能量分辨率高（优于125 eV），探测灵敏度强、计数率高，线性范围宽；部分支持2D成像/面扫描，体积小、集成度高，制冷型热噪低、寿命长，易与主流分析仪器无缝兼容 |
| 产品应用 | 配套XRD、XRF、XPS、同步辐射等分析仪器，高端医学成像与安检、工业无损检测、材料缺陷分析、同步辐射实验站点、核物理及环境监测、在线自动监控和数据采集 |
| 技术参数 | 能量分辨率常优于125 eV（SDD），能量响应范围1 keV-200 keV或更宽，最大计数率>1 Mcps，支持2D/面阵/线阵，输出接口USB、光纤、以太网等，可选制冷型和非制冷型，部分支持真空/高温特殊环境 |
| 安全与环境要求 | 设备具备X射线防护及报警装置，室温18~30℃、湿度≤75%，电气与接地安全，部分型号需冷却（制冷/水冷/风冷），高压防护，定期安全检查和操作培训 |
| 用户评价 | 能量/空间分辨率高，兼容性强，可靠易维护，性能稳定；用户反馈数据输出多样，分析效率高，软件易用，售后及时，配套主流仪器多样 |
| 产品名称 | X射线应力分析仪 |
| 品牌 | 理学(Rigaku)、布鲁克(Bruker)、Proto、Pulstec、日立(Hitachi)、马尔文帕纳科(PANalytical)、江苏梦兰、友联仪器等 |
| 型号 | Rigaku SmartLab/StressMate、Bruker D8 Discover、Proto LXRD/Portable-XRD、Pulstec μ-X360s、Hitachi X-Stress、PANalytical X’Pert Stress、江苏梦兰MLS-2000等 |
| 产地 | 日本、德国、加拿大、英国、中国等 |
| 产品详情 | X射线应力分析仪利用X射线衍射原理，通过测量衍射峰位移获取材料内应力分布，适合检测金属、陶瓷、薄膜等表层/微区残余应力与织构。支持实验室型、便携式、在线型等多种形态，实现材料性能和结构可靠性精准分析。 |
| 产品特点 | 非破坏性测试，测量速度快，面/点/线多模式可选，空间分辨率高；可实时现场/在线测量，软件自动分析与报告，支持多材料/多形态样品（平面、曲面），部分型号具备便携无线操作 |
| 产品应用 | 金属构件/焊缝残余应力测量、热处理/表面处理/喷涂工艺检测、薄膜材料应力监控、结构件服役安全评估、电子器件应力评价、航空/汽车/轨道交通与精密制造领域 |
| 技术参数 | 衍射角测量范围20~160°，角度分辨率≤0.01°，应力检测分辨率≤1 MPa，应变灵敏度10⁻⁴级，最大可测深度常为几十微米，样品尺寸匹配多样，输出USB/网络/自动报告等 |
| 安全与环境要求 | 具备X射线防护与警示，设备接地良好，实验室/现场温度15~30℃、湿度≤75%；定期安全检测与维护，操作员需接受X射线与仪器培训，测试后数据及残留样品规范处理 |
| 用户评价 | 测量快速准确、重复性高，便于批量或现场应用，操作界面友好、结果自动化；用户反馈设备稳定，便携型适合各行业现场测量，售后及时，适合科学研究与工程检测 |
| 产品名称 | X射线仪器部件/操作系统 |
| 品牌 | 布鲁克(Bruker)、理学(Rigaku)、安捷伦(Agilent)、岛津(Shimadzu)、牛津仪器(Oxford Instruments)、Amptek、Hamamatsu、PerkinElmer、PNDetector、PI（日本照片工业）、江苏天瑞等 |
| 型号 | Bruker X-Ray Components/Detector、Rigaku SmartLab Accessories、Agilent X-ray Source/Detectors、Oxford Xcelerator/Detector、Amptek X-123SDD、Hamamatsu X-ray Tube/Hamamatsu C12666MA等 |
| 产地 | 德国、日本、美国、英国、中国等 |
| 产品详情 | 包括X射线管、探测器(SDD/CdTe/闪烁体/平板阵列)、准直器、滤光片、样品台、旋转台、冷却系统、高压电源、自动进样与机械臂、操作及系统控制软件等，为XRD/XRF/CT/成像等各类X射线仪器关键部件及整体自动化和智能化集成提供支持。 |
| 产品特点 | 高度模块化和兼容性，性能稳定，精度与可靠性高；支持升级与定制，自动化水平高，易于维护更换；软硬件一体化，数据交互与远程控制便捷，部分部件可适应极端工况（高温、低温、真空） |
| 产品应用 | XRD、XRF、CT等X射线成套仪器制造、升级与维护；新型材料与微区分析、机电一体化自动检测线，科研自动化/机器人实验平台，工业在线/离线检测与质量控制，教学样机与研发项目 |
| 技术参数 | X射线管电压20~200 kV，电流0.1~10 mA（依型号）；探测器能量分辨率优于125 eV，计数率>1 Mcps，样品台移位控制精度µm级，支持USB/以太网/RS232等多种接口，智能软件支持标准/自定义控制协议 |
| 安全与环境要求 | 所有部件均需通过X射线与电气安全标准；实验环境温度15~30℃、湿度≤75%，防护与联锁装置齐全，操作人员接受专业培训，设备定期检测、维护与安全校验 |
| 用户评价 | 模块兼容性及自动化程度高，维护和升级便捷，部件性能稳定、数据交互友好；用户反馈操作系统稳定，集成度高，满足灵活配置需求，售后与技术支持完善，适合高校/科研/工业多场景 |
| 产品名称 | 其它X射线(衍射)仪 |
| 品牌 | 布鲁克(Bruker)、理学(Rigaku)、岛津(Shimadzu)、马尔文帕纳科(PANalytical)、日立(Hitachi)、安捷伦(Agilent)、Anton Paar、江苏梦兰等 |
| 型号 | Bruker D2 PHASER/AXS D6、Rigaku MiniFlex/SmartLab Studio/SmartLab SE、Shimadzu XRD-6100/MiniFlex II、PANalytical Aeris/Empyrean、Hitachi XRD-Flex等 |
| 产地 | 德国、日本、英国、美国、中国等 |
| 产品详情 | 本类别包括便携/袖珍X射线衍射仪、原位/在线专用XRD、微区XRD、多功能一体化X射线分析系统及根据特殊需求定制的X射线衍射仪。主要满足现场检测、微量分析、多环境测试、教育与移动应用等场景，适合常规台式XRD无法覆盖的特殊需求。 |
| 产品特点 | 体积小巧，便携可移动，结构紧凑，适合现场快速分析；安装与操作简便，测试速度快，部分型号支持电池或USB供电，适应小样品/异型样品/原位及在线监测需求，自动化程度高 |
| 产品应用 | 地质野外矿石鉴定、考古陶瓷/材料分析、法医快速检测、大型设备在线质量控制、教学与实验演示、微区/微量样品分析、制程线移动巡检等 |
| 技术参数 | 常见2θ范围3~145°，分辨率优于0.02°；最小样品量低至毫克级，测量时间1~5分钟/样，可选外部电池/USB供电，数据接口多样，部分型号集成移动终端/云端管理 |
| 安全与环境要求 | 机身具备X射线防护屏蔽/联锁，操作简单安全；适用环境温度5–35℃、湿度≤80%，操作员了解基本X射线防护知识，设备定期检测维护 |
| 用户评价 | 灵活机动、易于携带和部署，适合特殊或移动检测场景，结果直观准确；用户反馈实用性强，应用拓展广泛，维护简单，售后及时，适合科研/教学/野外/在线多场景 |